Advanced Materials and Nanotechnology
Informacje podstawowe
| Nazwa wydziału: | Wydział Fizyki, Astronomii i Informatyki Stosowanej |
| Nazwa kierunku: | Advanced Materials and Nanotechnology |
| Poziom: | drugiego stopnia |
| Profil: | ogólnoakademicki |
| Forma: | studia stacjonarne |
| Język studiów: | angielski |
Program
Opis realizacji programu
Student realizuje przedmioty według planu studiów AMN II stopnia, zgodnie z ogólnym regulaminem studiów UJ. Kursy są podzielone na obowiązkowe i fakultatywne do wyboru, tak aby conajmniej 30 % uzyskanych przez studenta punktów ECTS mogła być uzyskana z zaliczenia kursów do wyboru. Program semestralny jest tak skontruowany aby ostatni, czwarty semestr był poświęcony głównie na przygotowanie pracy dyplomowej.
Ukończenie studiów
pozytywna ocena z pracy dyplomowej i złożenie egzaminu dyplomowego
Jeśli chcesz dowiedzieć się więcej, otwórz cały program studiów
Student realizuje przedmioty z listy obowiązkowej dla semestru 1, dobierając przedmioty fakultatywne o charakterze ogólnym z dostępnych w ofercie dla 1 semestru za min. 8 ECTS
| Przedmiot | Liczba godzin | Punkty ECTS | Forma weryfikacji | |
|---|---|---|---|---|
| 4 | - | zaliczenie | O | |
|
Introduction to Nanotechnology
|
45 | 5 | egzamin | O |
|
Introduction to Statistical Data Analysis and Machine Learning methods
|
30 | 4 | zaliczenie | O |
|
Physical Laboratory
|
45 | 4 | zaliczenie | O |
|
Atomistic Computer Modeling in Materials Science
|
45 | 5 | egzamin | O |
|
European Studies
|
30 | 4 | egzamin | O |
|
English language I
|
30 | 1 | zaliczenie | O |
|
Specialist Seminar
|
30 | 3 | zaliczenie | F |
|
LabVIEW - programming for industry and research
|
45 | 5 | zaliczenie | F |
|
Python - programming for industry and research
|
45 | 5 | zaliczenie | F |
Student realizuje przedmioty z listy obowiązkowej dla semestru 2, dobierając przedmioty fakultatywne o charakterze ogólnym z dostępnych w ofercie dla 2 semestru za min. 8 ECTS
| Przedmiot | Liczba godzin | Punkty ECTS | Forma weryfikacji | |
|---|---|---|---|---|
|
Nanostructures – properties and formation
|
45 | 5 | egzamin | O |
|
Scanning probe microscopies – imaging and touching of the nanoworld
|
30 | 4 | egzamin | O |
|
Organic electronics
|
30 | 4 | egzamin | O |
|
Advanced methods of material characterization
|
90 | 7 | zaliczenie | O |
|
English language II
|
30 | 2 | egzamin | O |
|
Molecular modelling by quantum chemistry methods
|
45 | 5 | egzamin | F |
|
Molecular modelling of materials
|
45 | 5 | egzamin | F |
|
Molecular electronics
|
30 | 3 | zaliczenie | F |
|
Semiconductors
|
30 | 3 | zaliczenie | F |
Student realizuje przedmioty z listy obowiązkowej dla semestru 3, dobierając przedmioty fakultatywne o charakterze ogólnym z dostępnych w ofercie dla 3 semestru za min. 17 ECTS
| Przedmiot | Liczba godzin | Punkty ECTS | Forma weryfikacji | |
|---|---|---|---|---|
|
Photonics – selected trends of modern photonics
|
45 | 5 | egzamin | O |
|
Thermodynamics and atomistic modelling of structural transformations in crystalline materials
|
45 | 5 | egzamin | O |
|
X-ray optics
|
30 | 4 | egzamin | O |
|
Intellectual Property
|
10 | 1 | egzamin | O |
|
Master thesis seminar I
|
30 | 2 | zaliczenie | O |
|
Master work laboratory I
|
120 | 10 | zaliczenie | F |
|
Polymers
|
30 | 4 | egzamin | F |
|
Photonic materials
|
30 | 3 | zaliczenie | F |
|
Memristive materials
|
30 | 3 | zaliczenie | F |
Student realizuje przedmioty z listy obowiązkowej dla semestru 4, dobierając przedmioty fakultatywne o charakterze ogólnym z dostępnych w ofercie ogólnowydziałowej za min. 5 ECTS. Przed rozpoczęciem każdego roku akademickiego kierownik studiów decyduje, które z zajęć o charakterze fakultatywnym, uruchamianych na Wydziale FAIS, zostaną udostępnione studentom AM&N w danym roku.
| Przedmiot | Liczba godzin | Punkty ECTS | Forma weryfikacji | |
|---|---|---|---|---|
|
Master work laboratory II
|
210 | 18 | zaliczenie | O |
|
Master thesis seminar II
|
30 | 3 | zaliczenie | O |
|
Synchrotron radiation
|
30 | 5 | egzamin | F |
|
Facultative lectures of FAIS
|
30 | 5 | egzamin | F |